Alignment of the CMS silicon tracker during commissioning with cosmic rays

Chatrchyan, S.; Khachatryan, V.; Sirunyan, A. M.; Adam, W.; Arnold, B.; Bergauer, H.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Eichberger, M.; Ero, J.; Friedl, M.; Fruhwirth, R.; Ghete, V. M.; Hammer, J.; Hansel, S.; Hoch, M.; Hormann, N.; Hrubec, J.; Jeitler, M.; Kasieczka, G.; Kastner, K.; Krammer, M.; Liko, D.; De, I. M.; Mikulec, I.; Mittermayr, F.; Neuherz, B.; Oberegger, M.; Padrta, M.; Pernicka, M.; Rohringer, H.; Schmid, S.; Schofbeck, R.; Schreiner, T.; Stark, R.; Steininger, H.; Strauss, J.; Taurok, A.; Teischinger, F.; Themel, T.; Uhl, D.; Wagner, P.; Waltenberger, W.; Walzel, G.; Widl, E.; Wulz, C. E.; Chekhovsky, V.; Dvornikov, O.; Emeliantchik, I.; Litomin, A.; Makarenko, V.; Marfin, I.; Mossolov, V.; Shumeiko, N.; Solin, A.; Stefanovitch, R.; Gonzalez, J. S.; Tikhonov, A.; Fedorov, A.; Karneyeu, A.; Korzhik, M.; Panov, V.; Zuyeuski, R.; Kuchinsky, P.; Beaumont, W.; Benucci, L.; Cardaci, M.; De, E. A.; Delmeire, E.; Druzhkin, D.; Hashemi, M.; Janssen, X.; Maes, T.; Mucibello, L.; Ochesanu, S.; Rougny, R.; Selvaggi, M.; Haevermaet, H. V.; Mechelen, P. V.; Remortel, N. V.; Adler, V.; Beauceron, S.; Blyweert, S.; D'Hondt, J.; Weirdt, S. D.; Devroede, O.; Heyninck, J.; Kalogeropoulos, A.; Maes, J.; Maes, M.; Mozer, M. U.; Tavernier, S.; Doninck, W. V.; Mulders, P. V.; Villella, I.; Bouhali, O.; Chabert, E. C.; Charaf, O.; Clerbaux, B.; Lentdecker, G. D.; Dero, V.; Elgammal, S.; P. R., A.; Hammad, G. H.; Marage, P. E.; Rugovac, S.; Velde, C. V.; Vanlaer, P.; Wickens, J.; Grunewald, M.; Klein, B.; Marinov, A.; Ryckbosch, D.; Thyssen, F.; Tytgat, M.; Vanelderen, L.; Verwilligen, P.; Basegmez, S.; Bruno, G.; Caudron, J.; Delaere, C.; Demin, P.; Favart, D.; Giammanco, A.; Gregoire, G.; Lemaitre, V.; Militaru, O.; Ovyn, S.; Piotrzkowski, K.; Quertenmont, L.; Schul, N.; Beliy, N.; Daubie, E.; Alves, G. A.; Pol, M. E.; H. G., M.; Carvalho, W.; Damiao, D. D.; Martins, C. D.; De, S. F.; Mundim, L.; Oguri, V.; Santoro, A.; M. S., S.; Sznajder, A.; R. F., T.; A. F., M.; Gregores, E. M.; Novaes, S. F.; Abadjiev, K.; Anguelov, T.; Damgov, J.; Darmenov, N.; Dimitrov, L.; Genchev, V.; Iaydjiev, P.; Piperov, S.; Stoykova, S.; Sultanov, G.; Trayanov, R.; Vankov, I.; Dimitrov, A.; Dyulendarova, M.; Kozhuharov, V.; Litov, L.; Marinova, E.; Mateev, M.; Pavlov, B.; Petkov, P.; Toteva, Z.; Chen, G. M.; Chen, H. S.; Guan, W.; Jiang, C. H.; Liang, D.; Liu, B.; Meng, X.; Tao, J.; Wang, J.; Wang, Z.; Xue, Z.; Zhang, Z.; Avila, C.; Ruiz, M. B.; A. C., C.; Gomez, A.; Moreno, B. G.; A. O., A.; F. O., A.; Romero, D. R.; Sanabria, J. C.; Godinovic, N.; Lelas, K.; Plestina, R.; Polic, D.; Puljak, I.; Antunovic, Z.; Dzelalija, M.; Brigljevic, V.; Duric, S.; Kadija, K.; Morovic, S.; Fereos, R.; Galanti, M.; Mousa, J.; Papadakis, A.; Ptochos, F.; Razis, P. A.; Tsiakkouri, D.; Zinonos, Z.; Hektor, A.; Kadastik, M.; Kannike, K.; Muntel, M.; Raidal, M.; Rebane, L.; Anttila, E.; Czellar, S.; Harkonen, J.; Heikkinen, A.; Karimaki, V.; Kinnunen, R.; Klem, J.; Kortelainen, M. J.; Lampen, T.; Lassila-Perini, K.; Lehti, S.; Linden, T.; Luukka, P.; Maenpaa, T.; Nysten, J.; Tuominen, E.; Tuominiemi, J.; Ungaro, D.; Wendland, L.; Banzuzi, K.; Korpela, A.; Tuuva, T.; Nedelec, P.; Sillou, D.; Besancon, M.; Chipaux, R.; Dejardin, M.; Denegri, D.; Descamps, J.; Fabbro, B.; Faure, J. L.; Ferri, F.; Ganjour, S.; Gentit, F. X.; Givernaud, A.; Gras, P.; De, G. H.; Jarry, P.; Lemaire, M. C.; Locci, E.; Malcles, J.; Marionneau, M.; Millischer, L.; Rander, J.; Rosowsky, A.; Rousseau, D.; Titov, M.; Verrecchia, P.; Baffioni, S.; Bianchini, L.; Bluj, M.; Busson, P.; Charlot, C.; Dobrzynski, L.; De, R. G.; Haguenauer, M.; Mine, P.; Paganini, P.; Sirois, Y.; Thiebaux, C.; Zabi, A.; Agram, J. L.; Besson, A.; Bloch, D.; Bodin, D.; Brom, J. M.; Conte, E.; Drouhin, F.; Fontaine, J. C.; Gele, D.; Goerlach, U.; Gross, L.; Juillot, P.; Le, A. C.; Patois, Y.; Speck, J.; Hove, P. V.; Baty, C.; Bedjidian, M.; Blaha, J.; Boudoul, G.; Brun, H.; Chanon, N.; Chierici, R.; Contardo, D.; Depasse,