[Review to:] The Physics of the B Factories

Bevan, A. J.; Golob, B.; Mannel, Th.; Prell, S.; Yabsley, B. D.; Aihara, H.; Anulli, F.; Arnaud, N.; Aushev, T.; Beneke, M.; Beringer, J.; Bianchi, F.; Bigi, I. I.; Bona, M.; Brambilla, N.; Brodzicka, J.; Chang, P.; Charles, M. J.; Cheng, C. H.; Cheng, H. -Y.; Chistov, R.; Colangelo, P.; Coleman, J. P.; Drutskoy, A.; Druzhinin, V. P.; Eidelman, S.; Eigen, G.; Eisner, A. M.; Faccini, R.; Flood, K. T.; Gambino, P.; Gaz, A.; Gradl, W.; Hayashii, H.; Higuchi, T.; Hulsbergen, W. D.; Hurth, T.; Iijima, T.; Itoh, R.; Jackson, P. D.; Kass, R.; Kolomensky, Yu. G.; Kou, E.; Križan, P.; Kronfeld, A.; Kumano, S.; Kwon, Y. J.; Latham, T. E.; Leith, D. W. G. S.; Lüth, V.; Martinez-Vidal, F.; Meadows, B. T.; Mussa, R.; Nakao, M.; Nishida, S.; Ocariz, J.; Olsen, S. L.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Palano, A.; Pich, A.; Playfer, S.; Poluektov, A.; Porter, F. C.; Robertson, S. H.; Roney, J. M.; Roodman, A.; Sakai, Y.; Schwanda, C.; Schwartz, A. J.; Seidl, R.; Sekula, S. J.; Steinhauser, M.; Sumisawa, K.; Swanson, E. S.; Tackmann, F.; Trabelsi, K.; Uehara, S.; Uno, S.; van de Water, R.; Vasseur, G.; Verkerke, W.; Waldi, R.; Wang, M. Z.; Wilson, F. F.; Zupan, J.; Zupanc, A.; Adachi, I.; Albert, J.; Banerjee, Sw.; Bellis, M.; Ben-Haim, E.; Biassoni, P.; Cahn, R. N.; Cartaro, C.; Chauveau, J.; Chen, C.; Chiang, C. C.; Cowan, R.; Dalseno, J.; Davier, M.; Davies, C.; Dingfelder, J. C.; Echenard, B.; Epifanov, D.; Fulsom, B. G.; Gabareen, A. M.; Gary, J. W.; Godang, R.; Graham, M. T.; Hafner, A.; Hamilton, B.; Hartmann, T.; Hayasaka, K.; Hearty, C.; Iwasaki, Y.; Khodjamirian, A.; Kusaka, A.; Kuzmin, A.; Lafferty, G. D.; Lazzaro, A.; Li, J.; Lindemann, D.; Long, O.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Martinelli, M.; Miyabayashi, K.; Mizuk, R.; Mohanty, G. B.; Muller, D. R.; Nakazawa, H.; Ongmongkolkul, P.; Pacetti, S.; Palombo, F.; Pedlar, T. K.; Piilonen, L. E.; Pilloni, A.; Poireau, V.; Prothmann, K.; Pulliam, T.; Rama, M.; Ratcliff, B. N.; Roudeau, P.; Schrenk, S.; Schroeder, T.; Schubert, K. R.; Shen, C. P.; Shwartz, B.; Soffer, A.; Solodov, E. P.; Somov, A.; Starič, M.; Stracka, S.; Telnov, A. V.; Todyshev, K. Yu.; Tsuboyama, T.; Uglov, T.; Vinokurova, A.; Walsh, J. J.; Watanabe, Y.; Won, E.; Wormser, G.; Wright, D. H.; Ye, S.; Zhang, C. C.; Abachi, S.; Abashian, A.; Abe, K.; Abe, N.; Abe, R.; Abe, T.; Abrams, G. S.; Adam, I.; Adamczyk, K.; Adametz, A.; Adye, T.; Agarwal, A.; Ahmed, H.; Ahmed, M.; Ahmed, S.; Ahn, B. S.; Ahn, H. S.; Aitchison, I. J. R.; Akai, K.; Akar, S.; Akatsu, M.; Akemoto, M.; Akhmetshin, R.; Akre, R.; Alam, M. S.; Albert, J. N.; Aleksan, R.; Alexander, J. P.; Alimonti, G.; Allen, M. T.; Allison, J.; Allmendinger, T.; Alsmiller, J. R. G.; Altenburg, D.; Alwyn, K. E.; An, Q.; Anderson, J.; Andreassen, R.; Andreotti, D.; Andreotti, M.; Andress, J. C.; Angelini, C.; Anipko, D.; Anjomshoaa, A.; Anthony, P. L.; Antillon, E. A.; Antonioli, E.; Aoki, K.; Arguin, J. F.; Arinstein, K.; Arisaka, K.; Asai, K.; Asai, M.; Asano, Y.; Asgeirsson, D. J.; Asner, D. M.; Aso, T.; Aspinwall, M. L.; Aston, D.; Atmacan, H.; Aubert, B.; Aulchenko, V.; Ayad, R.; Azemoon, T.; Aziz, T.; Azzolini, V.; Azzopardi, D. E.; Baak, M. A.; Back, J. J.; Bagnasco, S.; Bahinipati, S.; Bailey, D. S.; Bailey, S.; Bailly, P.; van Bakel, N.; Bakich, A. M.; Bala, A.; Balagura, V.; Baldini-Ferroli, R.; Ban, Y.; Banas, E.; Band, H. R.; Banerjee, S.; Baracchini, E.; Barate, R.; Barberio, E.; Barbero, M.; Bard, D. J.; Barillari, T.; Barlow, N. R.; Barlow, R. J.; Barrett, M.; Bartel, W.; Bartelt, J.; Bartoldus, R.; Batignani, G.; Battaglia, M.; Bauer, J. M.; Bay, A.; Beaulieu, M.; Bechtle, P.; Beck, T. W.; Becker, J.; Becla, J.; Bedny, I.; Behari, S.; Behera, P. K.; Behn, E.; Behr, L.; Beigbeder, C.; Beiline, D.; Bell, R.; Bellini, F.; Bellodi, G.; Belous, K.; Benayoun, M.; Benelli, G.; Benitez, J. F.; Benkebil, M.; Berger, N.; Bernabeu, J.; Bernard, D.; Bernet, R.; Bernlochner, F. U.; Berryhill, J. W.; Bertsche, K.; Besson, P.; Best,