The BaBar silicon vertex tracker: performance and radiation damage studies

Re, Valerio; Kirkby, D.; Bruinsma, M.; Berryhill, J.; Burke, S.; Callahan, D.; Campagnari, C.; Dahmes, B.; Hale, D.; Hart, P; Kyre, S.; Levy, S.; Long, O.; Mazur, M.; Richman, J.; Stoner, J.; Verkerke, W.; Beringer, J.; Beck, T.; Eisner, A. M.; Grothe, M.; Lockman, W. S.; Pulliam, T.; Seiden, A.; Spradlin, P.; Walkowiak, W.; Wilson, M.; Borean, C.; Bozzi, Claudia; Piemontese, L.; Breon, A. B.; Brown, D.; Charles, E.; Clark, A. R.; Dardin, S.; Goozen, F.; Kerth, L. T.; Gritsan, A.; Lynch, G.; Perazzo, A.; Roe, N. A.; Zizka, G.; Lillard, V.; Roberts, D.; Brenna, E.; Citterio, M.; Lannif, .; Palombo, F.; Ratti, L.; Manfredi, P. F.; Mandelli, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bondioli, M.; Bosi, F.; Bucci, F.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Ceccanti, M.; Forti, F.; Gagliardi, D.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Mammini, P.; Marchiori, G.; Morganti, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Profeti, A.; Rama, M.; Rizzo, G.; Sandrelli, F.; Simi, G.; Walsh, J.; Elmer, P.; Burchat, P.; Cheng, C.; Edwards, A. J.; Meyer, T. I.; Petersen, B. A.; Roat, C.; Bona, M.; Bianchi, F.; Gamba, D.; Trapani, P.; Bosisio, L.; DELLA RICCA, G.; Dittongo, S.; Lanceri, L.; Rashevskaia, I.; Vitale, L.; Vuagnin, G.; Datta, M.; Liu, R.; Mihalyi, A.