Selection of the silicon sensor thickness for the Phase-2 upgrade of the CMS Outer Tracker

Adam, W.; Bergauer, T.; Bloch, D.; Dragicevic, M.; Fruhwirth, R.; Hinger, V.; Steininger, H.; Beaumont, W.; Di Croce, D.; Janssen, X.; Kello, T.; Lelek, A.; Van Mechelen, P.; Van Putte, S.; Van Remortel, N.; Blekman, F.; Delcourt, M.; D'Hondt, J.; Lowette, S.; Moortgat, S.; Morton, A.; Muller, D.; Sahasransu, A. R.; Sorensen Bols, E.; Allard, Y.; Beghin, D.; Bilin, B.; Clerbaux, B.; De Lentdecker, G.; Deng, W.; Favart, L.; Grebenyuk, A.; Hohov, D.; Kalsi, A.; Khalilzadeh, A.; Mahdavikhorrami, M.; Makarenko, I.; Moureaux, L.; Popov, A.; Postiau, N.; Robert, F.; Song, Z.; Thomas, L.; Vanlaer, P.; Vannerom, D.; Wang, Q.; Wang, H.; Yang, Y.; Bethani, A.; Bruno, G.; Bury, F.; Caputo, C.; David, P.; Deblaere, A.; Delaere, C.; Donertas, I. S.; Giammanco, A.; Lemaitre, V.; Mondal, K.; Prisciandaro, J.; Szilasi, N.; Taliercio, A.; Teklishyn, M.; Vischia, P.; Wertz, S.; Brigljevic, V.; Ferencek, D.; Majumder, D.; Mishra, S.; Roguljic, M.; Starodumov, A.; Susa, T.; Eerola, P.; Brucken, E.; Lampen, T.; Martikainen, L.; Tuominen, E.; Luukka, P.; Tuuva, T.; Agram, J. -L.; Andrea, J.; Apparu, D.; Bloch, D.; Bonnin, C.; Bourgatte, G.; Brom, J. -M.; Chabert, E.; Charles, L.; Collard, C.; Dangelser, E.; Darej, D.; Goerlach, U.; Grimault, C.; Gross, L.; Haas, C.; Krauth, M.; Nibigira, E.; Ollivier-Henry, N.; Silva Jimenez, E.; Asilar, E.; Baulieu, G.; Boudoul, G.; Caponetto, L.; Chanon, N.; Contardo, D.; Dene, P.; Dupasquier, T.; Galbit, G.; Jain, S.; Lumb, N.; Mirabito, L.; Nodari, Benedetta; Perries, S.; Vander Donckt, M.; Viret, S.; Botta, V.; Feld, L.; Karpinski, W.; Klein, K.; Lipinski, M.; Louis, D.; Meuser, D.; Pauls, A.; Pierschel, G.; Rauch, M.; Rowert, N.; Schulz, J.; Teroerde, M.; Wlochal, M.; Dziwok, C.; Fluegge, G.; Pooth, O.; Stahl, A.; Ziemons, T.; Cheng, C.; Connor, P.; De Wit, A.; Eckerlin, G.; Eckstein, D.; Gallo, E.; Guthoff, M.; Harb, A.; Kleinwort, C.; Mankel, R.; Maser, H.; Meyer, M.; Muhl, C.; Mussgiller, A.; Otarid, Y.; Pitzl, D.; Reichelt, O.; Savitskyi, M.; Stever, R.; Tonon, N.; Velyka, A.; Walsh, R.; Wang, Q.; Zuber, A.; Abbas, M.; Ardila, L.; Balzer, M.; Barvich, T.; Blank, T.; Butz, E.; Caselle, M.; De Boer, W.; Dierlamm, A.; Droll, A.; Elicabuk, U.; El Morabit, K.; Hartmann, F.; Husemann, U.; Koppenhofer, R.; Maier, S.; Mallows, S.; Mehner, T.; Metzler, M.; Modes, J.; Muller-Gosewisch, J. -O.; Muller, T.; Neufeld, M.; Nurnberg, A.; Sander, O.; Schell, D.; Schroder, M.; Shvetsov, I.; Simonis, H. J.; Stanulla, J.; Steck, P.; Wassmer, M.; Weber, M.; Weddigen, A.; Wittig, F.; Anagnostou, G.; Assiouras, P.; Daskalakis, G.; Kazas, I.; Kyriakis, A.; Loukas, D.; Balazs, T.; Marton, K.; Sikler, F.; Veszpremi, V.; Das, A.; Kar, C.; Mal, P.; Mohanty, R.; Saha, P.; Swain, S.; Bhardwaj, A.; Jain, C.; Jain, G.; Kumar, A.; Ranjan, K.; Saumya, S.; Bhattacharya, R.; Dutta, S.; Palit, P.; Saha, G.; Sarkar, S.; Cariola, P.; Creanza, D.; De Palma, M.; De Robertis, G.; Fiore, L.; Ince, M.; Loddo, F.; Maggi, G.; Martiradonna, S.; Mongelli, M.; My, S.; Selvaggi, G.; Silvestris, L.; Albergo, S.; Costa, S.; Di Mattia, A.; Potenza, R.; Saizu, M. A.; Tricomi, A.; Tuve, C.; Barbagli, G.; Brianzi, M.; Cassese, A.; Ceccarelli, R.; Ciaranfi, R.; Ciulli, V.; Civinini, C.; D'Alessandro, R.; Fiori, F.; Focardi, E.; Latino, G.; Lenzi, P.; Lizzo, M.; Meschini, M.; Paoletti, S.; Seidita, R.; Sguazzoni, G.; Viliani, L.; Ferro, F.; Robutti, E.; Brivio, F.; Dinardo, M. E.; Dini, P.; Gennai, S.; Guzzi, L.; Malvezzi, S.; Menasce, D.; Moroni, L.; Pedrini, D.; Zuolo, D.; Azzi, P.; Bacchetta, N.; Bortignon, P.; Bisello, D.; Dorigo, T.; Tosi, M.; Yarar, H.; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Ratti, L.; Re, Valerio; Riceputi, Elisa; Traversi, Gianluca; Asenov, P.; Baldinelli, G.; Bianchi, F.; Bilei, G. M.; Bizzaglia, S.; Caprai, M.; Checcucci, B.; Ciangottini, D.; Fano, L.; Farnesini, L.; Ionica, M.; Magherini, M.; Mantovani, G.; Mariani, V.; Menichelli, M.; Morozzi, A.; Moscatelli, F.; Passeri, D.; Piccinelli, A.; Placidi, P.; Rossi, A.; Santocchia, A.; Spiga